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AT2617 電容測(cè)試儀
在產(chǎn)
推薦型號(hào): AT817D
100kHz
分選機(jī)增強(qiáng)
RS232RS485USBHANDLER
GPIB網(wǎng)口選件
SCPIMODBUSTCP
數(shù)據(jù)記錄U盤(pán)存儲(chǔ)
概覽
    AT261X系列是電容測(cè)試儀,采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器可以選擇200kHz(AT2616)的測(cè)試頻率,并可選擇0.1V,0.3V,0.5V和1.0Vrms的測(cè)試信號(hào)電平。

    主副參數(shù)全5位顯示,可以同時(shí)顯示Z、R、A、A%的一種。高達(dá)0.1%的準(zhǔn)確度,使本儀器可滿(mǎn)足自動(dòng)化設(shè)備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學(xué)校、研究所和計(jì)量質(zhì)檢部門(mén)進(jìn)行精確測(cè)試和批量生產(chǎn)的要求。

    儀器擁有專(zhuān)業(yè)分選功能,具有10組存儲(chǔ)文件,可編程3檔合格檔,1檔附屬檔(副參數(shù)不合格),1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔,可設(shè)置百分比分選或絕對(duì)值分選,配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設(shè)計(jì)的AT261X,加強(qiáng)了整機(jī)抗干擾電路和保護(hù)電路,滿(mǎn)足自動(dòng)化設(shè)備(分選機(jī)、老化機(jī)等)的復(fù)雜使用環(huán)境。
特征
  • 真彩TFT-LCD顯示。
  • 儲(chǔ)存999個(gè)LCD畫(huà)面檔案,觸發(fā)延遲
  • 校正功能:全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零
  • 校準(zhǔn)功能
  • 比較器功能(分選功能)
  • 文件功能:儀器內(nèi)部Flash存儲(chǔ)器有10個(gè)文件可供您用來(lái)保存儀器數(shù)據(jù),
  • 可編程1~256次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。
  • 自定義分選結(jié)果訊響。
  • 內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口,可選GPIB接口。
  • SCPI和Modbus 通信協(xié)議。
規(guī)格
測(cè)量參數(shù)Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
基本準(zhǔn)確度0.1%
測(cè)試頻率100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
測(cè)試量程自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
測(cè)試速度30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍C: 0.0001pF – 9.9999mF
R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ
D, 0.0001 – 9.9999
Q: 0.0001 – 9999.9
Δ%: -999.999% - 999.999%
輸出阻抗30Ω,100Ω
監(jiān)視參數(shù)Z, R, Δ, Δ%
讀數(shù)99999
等效方式串聯(lián)和并聯(lián)等效
信號(hào)電平ACV:10.00mV~2.00V,準(zhǔn)確度:10%,CV模式準(zhǔn)確度:6%
平均次數(shù)1~256
觸發(fā)方式內(nèi)部、手動(dòng)、外部和遠(yuǎn)程
觸發(fā)延時(shí)0.01ms~60s
比較器合格檔(BIN1-BIN3):表示主副參數(shù)均合格;
附屬檔(AUX):表示附屬檔打開(kāi)時(shí),主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格;
不合格檔(OUT):主參數(shù)不合格,或者,附屬檔關(guān)閉時(shí)主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格。
HI/IN/LO:主參數(shù)更詳細(xì)的比較結(jié)果,HI:主參數(shù)偏高,LO:主參數(shù)偏低,IN:主參數(shù)合格
比較方式順序/絕對(duì)偏差/相對(duì)偏差
校準(zhǔn)開(kāi)路清零、短路清零(掃頻和點(diǎn)頻)
文件內(nèi)部存儲(chǔ)10個(gè)文件
外部USB存儲(chǔ)10個(gè)文件
數(shù)據(jù)記錄9999 組文件(.csv)
訊響功能關(guān)/合格/不合格
接口處理機(jī)(Handler)接口/RS232接口(標(biāo)配) RS485接口/GPIB接口(選件)
通訊協(xié)議SCPI/Modbus
電源要求90V-260VAC,50Hz至60Hz
尺寸與重量264(寬)x107(高)x349.5 (深)
3kg,凈重
應(yīng)用
    基礎(chǔ)元件和材料測(cè)量:電容器、電阻器、變壓器等
    元器件入料檢測(cè)
    電容器分選檢測(cè)
    用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制,進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選
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類(lèi)似產(chǎn)品

對(duì)比

AT2811

  • 測(cè)量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.25%
  • 測(cè)試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)和手動(dòng), 六量程
  • 測(cè)試速度: 慢速:3 次/秒,快速:10 次/秒

對(duì)比

AT2816A

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測(cè)試頻率: 50Hz~200kHz(連續(xù)頻點(diǎn))
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT2816B

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測(cè)試頻率: 50Hz~200kHz(37點(diǎn))
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT2817

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測(cè)試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點(diǎn))
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40/10/3 次/秒

對(duì)比

AT2817A

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測(cè)試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40/10/3 次/秒

對(duì)比

AT2818

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測(cè)試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

對(duì)比

AT3810A

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測(cè)試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT3816A

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測(cè)試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT3817A

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測(cè)試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT3818

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測(cè)試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT610D

  • 測(cè)量參數(shù): C,D
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測(cè)試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,6量程
  • 測(cè)試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對(duì)比

AT810

  • 測(cè)量參數(shù): L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測(cè)試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng),6量程
  • 測(cè)試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT810A

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測(cè)試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,9量程
  • 測(cè)試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對(duì)比

AT810D

  • 測(cè)量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測(cè)試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)量程,6量程
  • 測(cè)試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對(duì)比

AT817D

  • 測(cè)量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測(cè)試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點(diǎn))
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱(chēng)量程,6量程

對(duì)比

AT825

  • 測(cè)量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動(dòng)
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測(cè)試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測(cè)試量程: -
  • 測(cè)試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對(duì)比

AT826

  • 測(cè)量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動(dòng)
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測(cè)試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測(cè)試量程: -
  • 測(cè)試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對(duì)比

AT827

  • 測(cè)量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測(cè)試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)和手動(dòng)
  • 測(cè)試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對(duì)比

AT828

  • 測(cè)量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測(cè)試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測(cè)試量程: 自動(dòng)和手動(dòng)
  • 測(cè)試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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