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AT810A 精密LCR 數(shù)字電橋
在產(chǎn)
RS232RS485USBHANDLER
GPIB選件
SCPIMODBUS
數(shù)據(jù)記錄U盤存儲
概覽
    AT810A 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測試儀器。依賴于安柏精湛的技術(shù),使其性能無可挑剔。

    內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測試頻率設(shè)置,分辨率0.001Hz,并且提供任意電平設(shè)置,分辨率0.01V,使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場的使用。

    使用安柏成熟的實時儀器操作系統(tǒng),全中文菜單界面,使AT810A具有傻瓜式操作界面。

    增強自動分選機接口,30次/秒的測試速度,超高穩(wěn)定性,為全自動設(shè)備做好準備。

    內(nèi)置RS-232接口,兼容SCPI編程語言,很容易與計算機通訊,完成所有儀器功能。

    內(nèi)置Handler 14檔分選接口,配合RS-232接口完成復(fù)雜的自動控制系統(tǒng)。
特征
  • 高亮度,真彩LCD顯示。
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
  • 10組文件管理,可完全存儲儀器狀態(tài)和比較器設(shè)置。
  • 增強型比較器(分選)功能:可編程的P1~P9 9檔分選,主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
  • 絕對偏差(ABS)比較方式和相對偏差比較方式。
  • 根據(jù)標(biāo)稱值自動量程選擇。
  • 可開關(guān)的附屬檔(AUX)分選。
  • 可編程1~256次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。
  • 內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。
  • 1000V超強沖擊保護
規(guī)格
測量參數(shù)Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
基本準確度0.05%
測試頻率10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
測試量程自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
測試速度30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍L: 0.00001μH-9999.99H
C: 0.00001pF – 9999.99μF
R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ
D, 0.00001 – 9.99999
Q: 0.00001 – 99999.9
Δ%: -999999% - 999999%
θ(deg): -179.999° -179.999°
θ(rad):-3.14159 – 3.14159
DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ
輸出阻抗30Ω,50Ω 和100Ω
監(jiān)視參數(shù)Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ%
讀數(shù)所有參數(shù)全6位:999999
等效方式串聯(lián)和并聯(lián)等效
信號電平10.00mV~2.00V AC
100.0μA~20.00mA AC
平均次數(shù)1~256
觸發(fā)方式內(nèi)部、手動、外部和遠程
觸發(fā)延時0.01ms~60s
比較器14檔分選,10組合格檔,1組不合格檔,
1組副參數(shù)不合格檔
檔計數(shù)功能:檔計數(shù)999999
列表掃描10步(頻率、電壓和電流)
比較方式SEQ/ABS/PER
校準開路清零、短路清零(掃頻和點頻)
文件內(nèi)部存儲10個文件
外部USB存儲10個文件
數(shù)據(jù)記錄9999 組文件(.csv)
訊響功能關(guān)/合格/不合格
接口RS232/USB/HANDLER(標(biāo)配) RS485/GPIB(可選)
(*RevE)
通訊協(xié)議SCPI/Modbus*
(*RevE)
其它功能自動LCZ
電源要求AC 100V-240V, 50Hz-60Hz
20W MAX
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深)
3kg,凈重
應(yīng)用
    電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等元件和材料測量
文檔
文檔
宣傳手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
用戶手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
附件
標(biāo)配

ATL108

ATL108

RS232通訊電纜

ATL501A

ATL501A

四端開爾文測試盒

ATL600

ATL600

短路片(數(shù)字電橋、電容電感測試儀用)

ATL601

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徑向元件測試夾具

選件

ATL508

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SMD元件測試鉗

ATL508A

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SMD元件測試鉗

ATL608

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SMD貼片夾具

軟件
CH340 USB 驅(qū)動程序
Rev.A1.0

驅(qū)動程序

系統(tǒng)

0.2MB

RAR

AT281x 數(shù)據(jù)采集軟件
Rev.A1.0

中文版

應(yīng)用程序

免費軟件

5.4MB

RAR

AT281x 數(shù)據(jù)采集軟件(英文版)
Rev.A1.0

英文版

應(yīng)用程序

免費軟件

4.9MB

RAR

AT810A 數(shù)據(jù)采集軟件
Rev.A1.0

中文版

應(yīng)用程序

免費軟件

6.0MB

RAR

AT810A 數(shù)據(jù)采集軟件(英文版)
Rev.A1.0

英文版

應(yīng)用程序

免費軟件

6.3MB

RAR

安柏通訊助手
Rev.4.23

中文版

應(yīng)用程序

免費軟件

2.4MB

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類似產(chǎn)品

對比

AT2811

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.25%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動, 六量程
  • 測試速度: 慢速:3 次/秒,快速:10 次/秒

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AT2816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續(xù)頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT2816B

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2817

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

對比

AT3810A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT610D

  • 測量參數(shù): C,D
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對比

AT810

  • 測量參數(shù): L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動,6量程
  • 測試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810D

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對比

AT817D

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,6量程

對比

AT825

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT826

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT2617

  • 測量參數(shù): Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT827

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對比

AT828

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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