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AT3810A 精密LCR 數(shù)字電橋
在產(chǎn)
RS232USBHANDLER
RS485GPIB網(wǎng)口選件
SCPIMODBUS
數(shù)據(jù)記錄U盤存儲
概覽
    AT3810A采用真彩TFT-LCD顯示,全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示,讀數(shù)更加直觀,用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制,進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選,ATAT3810A為10Hz~20kHz連續(xù)頻點(diǎn),分辨率為0.001Hz。測試信號電平0.01Vrms~2.00Vrms(10mV步進(jìn)),相對于AT28系列增加了DCR測量以及內(nèi)部直流偏壓(DC BIAS, ±2.5V)

    ATAT3810A可同時對元件的4參數(shù)進(jìn)行測試,每種參數(shù)都可任意配置,全新改進(jìn)后的儀器,實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示,可掃描10種頻率或電平列表,還可對3組用戶頻率進(jìn)行校正,提高準(zhǔn)確度。內(nèi)置比較器,通過HANDLER接口結(jié)合PLC完成元器件的自動分選。

    儀器標(biāo)配RS232、RS485和USB接口,支持SCPI協(xié)議和Modbus 協(xié)議,同時可以選配GPIB接口。
特征
  • 真彩16M色,TFT-LCD顯示。
  • 儲存999個LCD畫面檔案,觸發(fā)延遲,自動準(zhǔn)位控制 (ALC)
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零,三組用戶點(diǎn)頻校準(zhǔn)。
  • 多頻測試:支持10個頻率掃描測試
  • 多電平測試:支持10個電平掃描測試
  • 10組文件管理,可完全存儲儀器狀態(tài),列表掃描設(shè)置和比較器設(shè)置。
  • 增強(qiáng)型比較器(分選)功能:可編程的P1~P9 九檔分選,主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
  • 絕對偏差(ABS)比較方式、相對偏差(PER)和順序(SEQ)比較方式。
  • 可開關(guān)的附屬檔(AUX)分選。
  • 可編程1~200次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。
  • 自定義分選結(jié)果訊響。
  • 內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。
  • 1000V超強(qiáng)沖擊保護(hù)
規(guī)格
測量參數(shù)Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
基本準(zhǔn)確度慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
測試頻率10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
測試量程自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
測試速度40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍L: 0.00001μH-9999.99H
C: 0.00001pF – 9999.99μF
R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ
D, 0.00001 – 9.99999
Q: 0.00001 – 99999.9
Δ%: -999999% - 999999%
θ(deg): -179.999° -179.999°
θ(rad):-3.14159 – 3.14159
DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ
輸出阻抗30Ω,50Ω 和100Ω
監(jiān)視參數(shù)Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ%
讀數(shù)所有參數(shù)全6位:999999
等效方式串聯(lián)和并聯(lián)等效
信號電平10.00mV~2.00V AC (支持恒電平)
100.0μA~20.00mA AC (支持恒電平)
直流偏置-2.5V~+2.5V (0.5%+0.005V)
平均次數(shù)1~256
觸發(fā)方式內(nèi)部、手動、外部和遠(yuǎn)程
觸發(fā)延時0.01ms~60s
比較器14檔分選,10組合格檔,1組不合格檔,
1組副參數(shù)不合格檔
檔計(jì)數(shù)功能:檔計(jì)數(shù)999999
列表掃描10步(頻率、電壓和電流)
比較方式順序/絕對偏差/相對偏差
校準(zhǔn)開路清零、短路清零(掃頻和點(diǎn)頻)
文件內(nèi)部存儲10個文件
外部USB存儲10個文件
數(shù)據(jù)記錄9999 組文件(.csv)
訊響功能關(guān)/合格/不合格
接口RS232/USB/HANDLER(標(biāo)配) RS485/GPIB(可選)
通訊協(xié)議SCPI/Modbus
其它功能自動LCZ
電源要求AC 100V-240V, 50Hz-60Hz
20W MAX
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深)
3kg,凈重
應(yīng)用
    基礎(chǔ)元件和材料測量:電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等
    元器件入料檢測
    電容器分選檢測
    用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制,進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選
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ATL108

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ATL601

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對比

AT2811

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.25%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動, 六量程
  • 測試速度: 慢速:3 次/秒,快速:10 次/秒

對比

AT2816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續(xù)頻點(diǎn))
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2816B

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點(diǎn))
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2817

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點(diǎn))
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

對比

AT3816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT610D

  • 測量參數(shù): C,D
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對比

AT810

  • 測量參數(shù): L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動,6量程
  • 測試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810D

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對比

AT817D

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點(diǎn))
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,6量程

對比

AT825

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT826

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT2617

  • 測量參數(shù): Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT827

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對比

AT828

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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